Curso de Metalografia Aplicada - Óptica e Eletrônica
ConteúdoMetalografia Aplicada - Óptica e Eletrônica
Porto Alegre - RS
Data
12 a 15 de junho de 2013
Horário
08h30 às 17h30
Realização
Associação Brasileira de Metalurgia, Materiais e Mineração -ABM
Organização
Gerência de Produção e Negócios da ABM
Divisão Técnica
Ciência e Engenharia de Materiais Metálicos
Carga Horária
28 horas
Público-alvo
Esse curso destina-se a profissionais experientes e a novos profissionais da área metal-mecânica que trabalhem ou atuem nos setores de qualidade, análise de matéria prima, identificação de defeitos e ajustes de processo. Destina-se também ao treinamento e atualização de siderurgistas, gerentes de área e profissionais ligados a área de vendas e marketing de produtos metálicos em geral. Em particular aqueles profissionais que desejam elevar seus conhecimentos quanto às técnicas de análises metalográficas em microscopia óptica e eletrônica.
Objetivo
Apresentar técnicas e cuidados quanto a preparação de amostras, identificação de fases, precipitados e segregados em produtos oriundos dos mais diversos processos da industria metal mecânica, como fundição, conformação, soldagem, tratamentos térmicos e outros. Apresentar informações práticas e fundamentais quanto à relação entre as propriedades, a microestrutura e o processamento dos mais diferentes processos de produção de peças metálicas. Estabelecer uma correlação direta entre os principais problemas observados nas etapas de produção, com os resultados dos métodos de análises metalográficas.
Programa
Introdução aos Ensaios Metalográficos
1.1 – Objetivos
1.2 – Estruturas dos materiais e relação com processamento e propriedades
1.3 – Macrografia
1.4 – Micrografia
1.5 – Objetivos das análises
1.6 – Lay-out de um laboratório de metalografia
Corpos de Prova ou Amostras
2.1 – Seleção da região de análise
2.1.1 – Processo de fabricação ou processamento
2.1.2 – Localização da amostra
2.1.3 – Precauções na retirada das amostras
2.1.4 – Corte
2.1.5 – Montagem ou embutimento
2.1.6 – Identificação
2.1.7 – Lixamento: manual, automático, sequenciamento
2.1.8 – Polimentos: manual, automático, eletroquímico
2.1.9 – Armazenamento
Ataques
3.1. – Ataques químicos
3.2 – Macro-ataque
3.3 – Micro-ataque
3.4 – Ataques especiais: eletrolítico, iônico, oxidação
3.5 – Principais reagentes e procedimentos
3.6 – Impressão de Baumann
Métodos de Visualização
4.1 – Visual
4.2 – Fotografia
4.3 – Microscopia
4.4 – Confecção de réplicas
4.5 – Superfície de fratura
Análises Quantitativas
5.1 – Métodos de determinação de tamanho de grão (ASTM E 112-96)
5.1.2 – Método da comparação
5.1.2.1 – Grãos austenítico e ferrítico
5.1.2.2 – Grãos na fratura
5.2 – Método planimétrico ou de Jeffries
5.3 – Método da intersecção
5.1.1 – Procedimento linear de intersecção ou de Heyn
5.1.2 – Procedimento circular simples (Hilliard) ou de 3 círculos (Abrams)
5.4 – Grãos não-equiaxiais
5.6 – Materiais com multi-fases ou constituintes (ASTM E 1181)
Visualização de Macro e Micrografias e Preparação de Amostras (PRÁTICA)
Estruturas bruta de fusão: aços-carbono, ferro fundido branco, cinzento, nodular, materais não-ferrosos, metais puros.
Estruturas conformadas: tração, compressão, laminação.
Estruturas tratadas termicamente: cementação, endurecimento por precipitação, têmpera, têmpera e revenimento, laser.
Metalurgia do pó.
6. MICROSCOPIA ELETRÔNICA
6.1 - Princípios teóricos de funcionamento do MEV e equipamentos periféricos,
(canhão de elétrons, lentes, geração de imagem)
6.2 - Tipos de imagens e emissões características; Imagens BE, SE e AE (elétrons
retroespalhados, secundários e absorvidos);
6.3 - Influência de parâmetros de operação na qualidade e características de
imagens BE e SE (distância de trabalho, tensão, diâmetro de feixe ou
corrente, astigmatismo, diâmetro da abertura, velocidade de varredura,
inclinação da amostra).
6.4 - Interpretação de imagens de MEV e exemplos.
6.5 - Geração e análise de espectros de raios-X.
6.6 - Geração e análise de espectros de difração de elétrons retroespalhados.
6.7 - Princípios que regem a adequada preparação de amostras para MEV.
PRÁTICA MICROSCOPIA ELETRÔNICA
- Preparação de amostras,
- introdução de amostras no MEV.
- Fazer e alinhar feixe de elétrons,
- Otimizar imagens para alta resolução e aumento,
- Microanálise química elementar (EDS).
TAXA DE INSCRIÇÃO
Associado ABM (pessoa física)
Empresa Associada ABM/Entidade Parceira - R$ 1.600,00
Empresa Não Associada - R$ 1.800,00
Não Associado ABM
Empresa Associada ABM/Entidade Parceira - R$ 2.300,00
Empresa Não Associada - R$ 2.600,00
Associado Júnior*
Empresa Associada ABM/Entidade Parceira - R$ 550,00
Empresa Não Associada - R$ 550,00
*Vagas limitadas a dois alunos no curso.
Empresa associada de entidade parceira da ABM terá desconto equivalente ao de empresa associada da ABM.
Entidades parceiras: ABAL, ABC, Sicetel e Sindicel.
Incluído na taxa de inscrição
Certificado de Participação (para participantes com no mínimo de 75% de presença)
Coffee-break
Estacionamento na ABM
Material didático
Atenção
A ABM se reserva o direito de adiar o curso caso não haja quórum.
As inscrições só poderão ser canceladas até no máximo 05 (cinco) dias úteis antes do inicio do curso e só será devolvido o equivalente a 80% (oitenta por cento) do valor pago.
O aluno poderá solicitar transferência de curso até no máximo 10 (dez) dias do inicio do curso no qual esta inscrito.
Só poderá ser feita substituição por outra pessoa faltando no máximo 72 horas (3 dias) para o inicio do curso, desde que formalmente comunicado e autorizado pelo setor responsável.
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